Transmissionselektronenmikroskopie

Transmissionselektronenmikroskopie
Es sollen die Grundprinzipien der Transmissionselek­
tronenmikroskopie sowie der Elektronenbeugung erlernt
werden. Dabei werden die folgenden Themengebiete
besprochen und am TEM demonstriert:
­ Aufbau und Wirkungsweise des TEM
­ Auflösungsvermögen und Vergrößerung
­ Kontrastentstehung und Abbildungsverfahren
­ Relation Bild und Beugungsbild (Abbe­Theorie)
­ Atomare Struktur und Beugungsbild
­ Analytische Methoden am TEM
Spezielle Versuchsaufgaben:
Es werden elektronenmikroskopische Bilder und Beugungsbilder aufgenommen. Die
nachfolgende Auswertung umfasst die Deutung der Bildkontraste sowie die Bestimmung von
Siliziumdioxidpartikel in
einer Pflanzenzelle
Beugungsbild von amorphem
Siliziumdioxid
Größenverteilungen (z. B. Kristallitgrößen). Mittels der Beugungsbilder ist eine erste
strukturelle Charakterisierung (einkristallin, polykristallin, amorph) der unterschiedlichen
Probenbereiche vorzunehmen. Weiterhin sind die Beugungsbilder zu kalibrieren und dann
Gitterparameter zu bestimmen.
Als ein Beispiel für analytische
Methoden wird ein Elektronen­
Energieverlust­Spektrum registriert,
um die in der Probe vorhandenen
Elemente zu ermitteln.