Bleifreies Handlöten - EE
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Bleifreies Handlöten - EE
9. Europäisches Elektroniktechnologie-Kolleg vom 22.-26 März 2006 in Colonia de Sant Jordi Bleifreies Handlöten T. Ahrens, Fraunhofer ISIT, D-25524 Itzehoe Fraunhoferstraße 1, Tel. 04821 17-4605, Fax -4251 e-mail [email protected] Certified IPC Trainer, Mastertrainer für FED Fachverband Elektronik-Design © T. Ahrens, Fraunhofer ISIT 2005 ISIT Schwerpunkt-Aktivitäten LEADFREE Trainingslinie z z z z z z © T. Ahrens, Fraunhofer ISIT 2005 IC-Technology Microsystems Analog-Digital IC Design Biotechnical Systems Packaging, Module Integration Integrated Power Systems LEADFREE Trainingslinie im Fraunhofer ISIT* www.life-leadfree.de Pastendruck - Bestücken - Reflowlöten (SMT) Rework AOI Selektiv Welle Welle (SMT&THT) Handlöten OfflineProgrammierung Dampfphase Zugang durch Schleuse *LIFE05 ENV/D/000197 LEADFREE © T. Ahrens, Fraunhofer ISIT 2005 Inspektion Rework Selektiv Kolben Rework Übersicht z Metallurgie des Handlötens z Probleme mit „bleifrei“ z Bewertungskriterien zur Prozessoptimierung z Erfassung des Prozessfensters z Lotlegierungen im Vergleich z Innovative Lötwerkzeuge z Schlussfolgerungen z Literatur © T. Ahrens, Fraunhofer ISIT 2005 Bildung der Lötverbindung beim Kolbenlöten Kolbenspitze (Kupfer) Eisenschicht: benetzt, löst sich nur langsam Bewegungsrichtung A: Oxidschicht B: „kochendes“ Flussmittel C: freiliegende Metalloberfläche Lot Flussmittel Oxidschicht Legierungsschicht Grundmetall D: Lot reagiert mit dem Grundmetall E: wachsende Legierungsschicht (intermetallische Phase) F: Grundmetall Quelle:DKI Lehrmittel © T. Ahrens, Fraunhofer ISIT 2005 Metallurgie (1): Wann schmilzt das Lot? Das eutektische Zweistoffsystem Zinn-Blei Die eutektische Legierung hat den niedrigsten Schmelzpunkt (183°C), d. h. auch die niedrigste Verarbeitungstemperatur und das beste Formfüllungsvermögen im P System P: Primärdendrit (bleireich) im eutektisch erstarrten Gefüge (Legierung Sn60 Pb) © T. Ahrens, Fraunhofer ISIT 2005 Metallurgie (2): Wann schmilzt das Lot? Das eutektische Zweistoffsystem Zinn-Silber Die eutektische Legierung schmilzt bei 221°C; unter Zugabe von 0,5-0,7% Kupfer sinkt die Schmelztemperatur auf 217°C Ag © T. Ahrens, Fraunhofer ISIT 2005 Sn Metallurgie (3): Die Grenzschichtreaktion Kupfer-Zinn Bei der Benetzung löst sich ε Lot η Cu ε Kupfer im flüssigen Zinn. Bei Löttemperatur entstehen an der Grenzfläche stabile Keime der intermetallischen η 227°C Phasen ε (Cu3Sn) und η (Cu6Sn5). Blei nimmt an der Reaktion nicht teil. © T. Ahrens, Fraunhofer ISIT 2005 Bleifrei Handlöten – Empfehlungen eines Bauelementeherstellers (1) Quelle: Murata Cat.No.C02E-9 Chip Monolithic Ceramic Capacitors © T. Ahrens, Fraunhofer ISIT 2005 Folgen erhöhter Arbeitstemperatur / T-Gradienten Bauteilschädigung © T. Ahrens, Fraunhofer ISIT 2005 Folgen erhöhter Arbeitstemperatur / T-Gradienten Bauteilschädigung © T. Ahrens, Fraunhofer ISIT 2005 Folgen zu hoher Arbeitstemperatur Lift off – natürlich auch bei bleihaltigem Lot!! HandDetLötung.jpg Hand0lötung.jpg © T. Ahrens, Fraunhofer ISIT 2005 Zu viel Lötwärme führt zum Abheben der Restringe Grundregeln für das Löten von Hand z s? s e z o Pr Stelle einen guten Wärmekontakt zwischen der Lötspitze und nder Lötstelle e t her. Dieser gute Kontakt kann nur über das flüssige Lotserzielt ch werden. rr e z Lass das Flussmittel seine Wirkung an den entsprechenden Stellen eh b n verrichten. e n ei Stelle kommen. Das Flussmittel muss frei auf die zu lötende r fü s Flussmittel fördert den Wärmeübergang. u a onLötkolben und zu lötender Stelle so lange z Erhalte den Kontakt zwischen h c s aufrecht, bis das Lot lgut n verlaufen ist. e g e Rsoviel Lot wie notwendig. z Verwende nur e s e i Bei bedrahteten Anschlüssen sollte die Kontur der Drähte sichtbar bleiben. d n e h z Die ic Bauteile dürfen sich während der Erstarrung nicht bewegen. e R Quelle: Klein Wassink “Weichlöten in der Elektronik” Leuze-Verlag (1992) © T. Ahrens, Fraunhofer ISIT 2005 Ergebnisse einer NPL-Umfrage bei 65 UK-Elektronikfertigern Rework mit schnell nachheizenden Lötspitzen a) Lötspitzentemperatur THT b) Anzahl Lötvorgänge SMT SMT c) zulässige Lötzeit SMT Quelle: Wickham, Hunt; Soldering & SMT (1999) NPL = National Physical Laboratory, Teddington, UK © T. Ahrens, Fraunhofer ISIT 2005 Quantifizierung der vorhandenen Lötfertigkeiten: Das Scoring Modell z Das Scoring-Modell ist ein Punktwertverfahren, das eine systematische Auswahl von Alternativen(Objekten) ermöglicht z Objekte haben Merkmale, die je nach ihrer Bedeutung unterschiedlich gewichtet werden. Jedem Merkmal pro Objekt wird je nach Erfüllungsgrad ein Nutzwert zugeordnet z Die Summe der gewichteten Nutzwerte aller Merkmale pro Objekt ergibt den Summenwert des Objektes. z Das Objekt mit dem höchsten Summenwert ist der Favorit © T. Ahrens, Fraunhofer ISIT 2005 Scoring ist eine Gruppenaufgabe; Ermittlung und Gewichtung der Merkmale wird durch eine heterogene Gruppe objektiviert Der Prozess kann in sechs Stufen unterteilt werden: z Definition der Bewertungsgruppe – z. B. Lötergebnis z Auswahl der Bewertungskriterien (Merkmale) z Gewichtung der Bewertungskriterien (Merkmalsgewichtung) – alle gemeinsam; intuitiv (ausdiskutieren), korrelativ (objektiviert) z Durchführung der Bewertung - jeder für sich allein z Auswertung (Mittelwertbildung der Summenwerte) z Sensitivitätsanalyse © T. Ahrens, Fraunhofer ISIT 2005 visuelle Kriterien* zur Bewertung durch das Fertigungspersonal z Die Lötstellenoberfläche soll gleichmäßig und glatt sein (Glanz ist nicht erforderlich). z Das Lot soll von den zu fügenden Teilen aus dünn auslaufen (kleiner Kontaktwinkel). z Die Lötstellenoberfläche soll nicht unterbrochen sein. z Die Konturen der gelöteten Teile sollen in der Lötstelle erkennbar sein. z Die Lötstelle muss ausreichend Lot enthalten. *IPC-A-610 Abnahmekriterien für elektronische Baugruppen © T. Ahrens, Fraunhofer ISIT 2005 Scoring Modell, 2 Beispiele für quantifizierbare Merkmale Merkmal i Nutzwert 0 Lötzeit [s] Abweichung in der Lötzeit © T. Ahrens, Fraunhofer ISIT 2005 1 2 Gewichtung gi [%] t>3 3>t>2 2>t>1 17 s > 0,8 0,8 > s > 0,4 0,4 > s 9 Anwendung des Scoring Modells z z Der Nachteil des Scoring Modells liegt in der Subjektivität der Auswahl und in der Gewichtung der Merkmale. Der Vorteil ist die Einfachheit des Modells, der fachliche Austausch zwischen den Scoring Teilnehmern und die verursachte Diskussion zwischen den Mitgliedern verschiedener Hierarchiestufen. © T. Ahrens, Fraunhofer ISIT 2005 Ermittlung des Prozessfensters z z Löttemperaturen 300°C, 325°C, 350°C und 375°C. Lötzeiten werden aus Videoaufnahmen ermittelt. z Untergrenze des Lötprozessfensters: Zeitdauer bis zur vollständigen Pad- Benetzung (100% mit Lot benetzt) z Obergrenze des Lötprozessfensters: Zeitdauer bis zur Fleckenbildung („Measling“, d. h., bis sich eine weiße Verfärbung auf der Leiterplatte zeigt). © T. Ahrens, Fraunhofer ISIT 2005 Verwendete Lotdrähte SAC Lotlegierung SnCuNi Sn-Ag-Cu Sn-Cu-Ni Ni<0,1% Sn-Cu Sn-Pb SnAg3.0Cu0.5 Sn99.3Cu0.7Ni Sn99Cu1 Sn60Pb40 Schmelztemperatur [°C] 217 (eutektisch) 227 (eutektisch) 227 (eutektisch) 183 (eutektisch) Drahtdurchmesser [mm] 0,6 0,5 0,7 0,5 Flussmittelanteil [Gewichts%] 3,4 3,5 1,5 2,5 Merkmale Zusammensetzung Fluxtyp © T. Ahrens, Fraunhofer ISIT 2005 Alle no-clean halogenfrei Untergrenze des Lötprozessfensters 5 5,0 4,5 Sn-Ag-Cu Sn-Cu-Ni Sn-Cu Sn-Pb Zeit in [s] 4 4,0 3,5 3,0 2,5 2 2,0 1,5 1 1,0 0,5 0,0 300 300 © T. Ahrens, Fraunhofer ISIT 2005 325 350 Lötspitzentemperatur in [°C] 375 375 Untergrenze des Lötprozessfensters - Streuung der Lötzeiten 1,1 g 1,1 1,0 Sn-Ag-Cu Sn-Cu-Ni Sn-Cu Sn-Pb Zeit in [s] 0,9 0,9 0,8 0,7 0,6 0,5 0,5 0,4 0,3 0,3 300 300 © T. Ahrens, Fraunhofer ISIT 2005 325 350 Lötspitzentemperatur in [°C] 375 375 Obergrenze des Lötprozessfensters 25 Grenzwerte der Fleckenbildung 25 durchschnittliche Lötzeit unterer Grenzwert oberer Grenzwert Standardabweichung Zeit in [s] 2020 15 1010 55 0 300 300 © T. Ahrens, Fraunhofer ISIT 2005 325 350 Lötspitzentemperatur in [°C] 375 375 Durchstiegszeiten g durchschnittliche Durchstiegszeit Standardabweichung Untergrenze der Durchstiegszeit Obergrenze der Durchstiegszeit 4 4,0 3,5 Zeit in [s] 3 3,0 2,5 2,0 1,5 1 1,0 0,5 325 300 350 375 Lötspitzentemperatur in [°C] 375 THT © T. Ahrens, Fraunhofer ISIT 2005 Prozessfenster im Vergleich nach Benetzung = Prozessfenster I Sn-Pb 9 8 8 TL=183°C 6 5 4 TL=227°C 6 5 4 3 3 2 2 1 1 0 0 300 325 350 Sn-Ag-Cu 9 8 300 375 350 375 Kurve A Kurve B 8 TL=227°C 7 TL=217°C 7 325 Sn-Cu 9 Kurve A Kurve B 6 6 Zeit in [s] Zeit in [s] Kurve A Kurve B 7 Zeit in [s] Zeit in [s] 7 Sn-Cu-Ni 9 Kurve A Kurve B 5 4 3 5 4 3 2 2 1 1 0 0 300 325 © T. Ahrens, Fraunhofer ISIT 2005 350 375 300 325 350 375 Auswirkung auf das Innenleben 300°C SAC SnCu 300°C SnCuNi SnCu 375°C SAC 350°C © T. Ahrens, Fraunhofer ISIT 2005 SnPb SnCuNi 375°C Scoring Modell - Merkmale M e rk m a l i P u n k tw e rt N B enetz un gs - K ü rz e l G e w i c h tu n g 0 1 2 γ > 90° 9 0 °< γ > 4 5 ° γ < = 4 5 ° f ür g i [ %] A 17 w in k e l min .1 L ö ts te lle n a lle L ö ts te lle n L ö t z e it t> 3 s 3< t> 2 s 2< t> 1 B 17 A b w e ic h u n g σ> 0 , 8 0 , 8 < σ> 0 , 4 σ< 0 , 4 C 9 unter 80% m in . 8 0 % 100% D 17 T= > 3 7 5 3 5 0 < = T> 3 2 5 325< = T E 17 s t a rk m it t e l k aum F 4 ja - n e in G 12 vie le weni g k aum H 7 in d e r L ö t z e it D u rc h s t ie g L ö t t e m p e ra t u r [ °C ] F M - S p rit z e r z u s ä t z lic h e F M - V erwe ndu ng P o re n T a b e ll e 1 : S c o rin g Ι Ι , M e rk m a le A -H , P u n k t w e rt e u n d G e w ic h t u n g e n © T. Ahrens, Fraunhofer ISIT 2005 Scoring Modell - Ergebnisse Löttemperatur=325°C Löttemperatur=350°C Summenwert Summenwert Objekt k Objekt k des Objektes des Objektes SnPb 1,72 SnPb 1,72 SnCu 0,81 SnCu 1,15 SnAgCu 1,16 SnAgCu 1,33 SnCuNi 1,06 SnCuNi 1,32 © T. Ahrens, Fraunhofer ISIT 2005 Prozessfenster im Vergleich nach Schliffen = Prozessfenster II Sn-Pb 9 8 8 TL=183°C 6 5 4 TL=227°C 6 5 4 3 3 2 2 1 1 0 0 300 325 350 Sn-Ag-Cu 9 8 300 375 350 375 Kurve A Kurve B 8 TL=227°C 7 TL=217°C 7 325 Sn-Cu 9 Kurve A Kurve B 6 6 Zeit in [s] Zeit in [s] Kurve A Kurve B 7 Zeit in [s] Zeit in [s] 7 Sn-Cu-Ni 9 Kurve A Kurve B 5 4 3 5 4 3 2 2 1 1 0 0 300 325 © T. Ahrens, Fraunhofer ISIT 2005 350 375 300 325 350 375 bleifreie Wellenlötung , SnAg3,5/265°C, Schutzgas SMD (Lötseite) R0805 QFP44 0,8 mm Raster 10 µm Ablegierung bei 265°C Stromschiene guter Durchstieg bei 265°C hohe Temperatur: Æ besserer Durchstieg Æ mehr Ablegierung © T. Ahrens, Fraunhofer ISIT 2005 Löten von Litzendrähten: Ablegierverhalten nach 3x5s Lötzeit SnPbAg SnAgCu0,5 Litzendrähte verdrillt 250°C 280°C © T. Ahrens, Fraunhofer ISIT 2005 SnAgCu1,3 Das Ablegieren wird durch erhöhten Kupferanteil im Lot stark vermindert: 260°C, 3x5s SnPbAg © T. Ahrens, Fraunhofer ISIT 2005 SnAgCu0,5 SnAgCu1,3 Beispiel für Lötspitzen-Korrosion Quelle: ZAVT © T. Ahrens, Fraunhofer ISIT 2005 Übersicht über manuelle Lötspitzen Quelle: ERSA Löttechnik GmbH © T. Ahrens, Fraunhofer ISIT 2005 Handlötwerkzeuge für spezielle Anwendungen z Oben: Hohlkehl-Lötspitze zur Pad-Nach- und Vorbereitung sowie zum Füllen der Lötverbindungen an Fine-Pitch-Bauelementen z links: Heizbare Pinzette zum Greifen und Auslöten von 0402-Bauelementen; nicht zum Einlöten verwenden - der Temperaturschock kann die Keramik zerstören! Quelle: SMT magazine © T. Ahrens, Fraunhofer ISIT 2005 Oxidation auf der Lötspitze Quelle: ZAVT © T. Ahrens, Fraunhofer ISIT 2005 Bleifrei Handlöten – bekomme ich genügend Wärme in meine Fügestelle? z z Lötspitze mit hoher thermischer Masse Lötspitze mit gezielter Kapillarwirkung © T. Ahrens, Fraunhofer ISIT 2005 Wie verringert man die Oxidation? ¾ ¾ Lötspitze für Schutzgas umspülten Lötprozess Schutzgas geflutetes flüssiges Lotdepot Quelle: Weller © T. Ahrens, Fraunhofer ISIT 2005 Flussmittelauftrag durch Sprühen, mit Pinsel oder Flussmittelstift z z z © T. Ahrens, Fraunhofer ISIT 2005 Auch beim Auslötvorgang Flussmittel verwenden Verwenden Sie einen Flussmittelstift zum selektiven Auftragen von Flussmitteln. Flussmittelstift mit Selektivlötflussmittel abgestimmt auf die für Ihren Prozess qualifizierten Flussmittel Handlöten mit Schutzgas-umspülter Lötspitze 1 Vorwärmung um Schutzgasstrom 2 Kontaktierung mit Lot 3 Abkühlphase in Schutzgasatmosphäre Quelle: Soldercom GmbH © T. Ahrens, Fraunhofer ISIT 2005 Bleifrei Handlöten – Empfehlungen eines Bauelementeherstellers (2) z Früher hieß es: Kinder betet, Vater lötet mdl. Überlieferung: Dr. H. Bell, rehm Anlagenbau (Ursprung – Zille?) z Heute heißt es: Löten auf eigene Gefahr! Grafik: Murata Cat.No.C02E-9 Chip Monolithic Ceramic Capacitors © T. Ahrens, Fraunhofer ISIT 2005 Zusammenfassung: Bei Verwendung bleifreier Lote sind z die Lötzeiten länger z die Ergebnisse ungleichmäßiger z die Arbeitstemperaturen höher z die Flussmittelrückstände & Lötspitzenkorrosion verstärkt. Deshalb: Î Schulungsaktivitäten mit Prozessfähigkeitsanalysen verbinden (Methodik siehe z. B. „Scoring“) Î Oxidation mit Einsatz von Schutzgas reduzieren Î neue Werkzeuge evaluieren © T. Ahrens, Fraunhofer ISIT 2005 Literatur z z z z z z z DKI Lehrhilfe Werkstofftechnik Herstellungsverfahren Klein Wassink ”Weichlöten in der Elektronik” Leuze-Verlag (1992) IPC-A-610C Abnahmekriterien für elektronische Baugruppen ESA PSS-01-708 : The manual soldering of high reliability electrical connections; March 1985 IPC 7711/7721: Rework of Electronic Assemblies & Repair and Modification of Printed Boards and Electronic Assemblies Seher Kurnaz, Diplomarbeit Fachhochschule Wedel Scoring-Prozess: www.resource-people.de/home/praktik/pr_scoring.php © T. Ahrens, Fraunhofer ISIT 2005